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新一代光谱成像椭偏仪新一代的超薄膜、表界面和材料分析测试工具，结合自动消光椭偏技术和传统显微镜技术，横向（X/Y方向）分辨率超过1微米 新一代成像椭偏仪Nanofilm_EP4具有多种*功能，实现对超薄膜的实时可视化分析测试。你将实时看到样品微观尺度上的结构。可以测量诸如薄膜厚度、折射率和吸收系数等参数。也可以对薄膜进行区域化（选区）分析，获得所选区域的成像分析图。还可以结合其他分析测试技术对样品进行联合分析从而从样品中获取更多的信息，联用技术如原子力显微镜（AFM）、石英晶体微天平（QCMD）、反射光谱仪和拉曼光谱仪。成像椭偏仪Nanofilm_EP4是模块化薄膜分析测试平台，可根据您具体的应用方向进行差异化配置，从而实现不同的分析测试功能 技术优势： 新一代光谱成像椭偏仪的椭偏横向分辨率：可分辨超1微米的微小区域，实现微结构试样和微小试样的椭偏分析 新一代成像椭偏技术实现250nm-1700nm连续光谱椭偏分析，提供在宽广波长范围内的样品成像椭偏分析图片。连续光谱测量技术（波长扫描）允许在波长对样品进行椭偏分析 实时的椭偏对比度图像，对样品表面进行实时视频图像分析。样品的所有微结构、缺陷、污染和动态变化过程都将一览无余 选区分析技术（）实现区域化的椭偏成像分析测试。平行化分析技术让您对多个区域进行同步分析 成像椭偏分析集成平台，实现多种测量技术的联用。从而从样品中获得更多的信息 全画幅聚焦技术可选，*解决由于椭偏仪斜角入射，物镜焦平面和样品表面相交只能线聚焦样品，因此需要物镜扫描获取全画幅聚焦照片的难题。适用于动态样品的原位分析测试，如自组装单分子层的生长和移动、蛋白质相互作用和水面单分子层的漂移等等 光斑切割技术，真正实现超薄透明基底上薄膜的无背底反射椭偏测试 多种功能拓展附件实现成像椭偏技术在不同应用领域内的多种实用功能，如表面等离子共振（SPR）单元，固/液界面分析单元，光导液/液界面分析单元，微流控分析单元，温度控制单元，电化学分析单元等等
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